SpecMetrix® FWS 膜重測試站

SpecMetrix® 膜重測試站為實驗室提供非接觸式、非破壞性、實時的薄膜重量和涂層厚度測量數(shù)據(jù)。

由SpecMetrix提供，工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌，致力于創(chuàng)新的涂層厚度測量。

SpecMetrix®膜重測試站提供了非接觸、非破壞性、實時的離線厚度測量測試，適用于涂層樣品和平板薄膜。膜重測試站具有高度精確和快速的特點，通過單點和掃描模式進(jìn)行厚度測試。

此外，它還可以在實驗室或涂布線上對干涂層薄膜或卷帶進(jìn)行自動化的長度和寬度掃描測量。

簡化質(zhì)量控制流程

SpecMetrix®膜重測試站旨在簡化質(zhì)量控制測試，并改善對膜重和涂層厚度的過程控制。由于其強(qiáng)大能力，能夠以亞微米級精度識別和量化絕對膜重厚度，它是我們推薦的實驗室測量工具之一。

膜重測試站系統(tǒng)加速了離線薄膜測試，并改善了來料和成品檢驗。

多功能測量能力

SpecMetrix®膜重測試站提供可靠且可重復(fù)的測量：

· 精確快速地分析膜重

· 非接觸、非破壞性測量 – 確保樣品的完整性

· 測量濕樣或干樣，以及透明或有色著色基材

· 廣泛應(yīng)用 – 實時測量單層或雙層涂層，精度可達(dá)到亞微米級

完整的涂層洞察

SpecMetrix®膜重測試站提供了可靠性和可重復(fù)性，允許用戶獲取準(zhǔn)確的涂層測試數(shù)據(jù)和質(zhì)量控制。

憑借SpecMetrix的精確和創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)，用戶可以為其產(chǎn)品和樣品獲取完整的膜重和涂層測量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測量。

該技術(shù)也非常安全——無放射性和無侵入性。我們的光學(xué)技術(shù)高度先進(jìn)，并在涂層行業(yè)中廣泛應(yīng)用。

強(qiáng)大的SensorMetric軟件

作為測量分析的核心部分，我們用戶友好的軟件包將所有測量數(shù)據(jù)存儲到Excel®中，或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口，以便在生產(chǎn)運行期間或之后進(jìn)行SPC分析。

此外，我們的軟件還包括一個配方助手，幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有配方。

可選的系統(tǒng)配置

SpecMetrix®膜重測試站設(shè)計為模塊化，因此可以輕松重新配置或升級系統(tǒng)以滿足您的測試和測量需求。

請與我們的專家團(tuán)隊討論您的測試和測量要求。我們可以為您的實驗室或生產(chǎn)線需求建議最佳系統(tǒng)解決方案。無論是離線、周期性在線還是全在線系統(tǒng)——我們都可以提供適合您需求的測量系統(tǒng)。

功能和優(yōu)點

· 靈活快速 – 模塊化設(shè)計，具備從質(zhì)量控制實驗室到生產(chǎn)車間的即時膜重測量能力。

· 非接觸式 – 測量過程中不接觸涂層或基材，保持樣品和部件的完整性。

· 絕對厚度測量 – 超高精度的實時涂層和膜厚度測量，加速樣品測試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。

· 基材獨立 – 適用于濕樣或干樣的透明、有色或著色基材的測量。

· 廣泛應(yīng)用 – 實時測量單層或雙層涂層，精度達(dá)到亞微米級。

· 高度精確 – 相比浮動探頭，膜重測量工具更快且更精確。

· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性的ROI和EXR增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)。

· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法有助于減少廢料、返工勞動力和能源成本。

· 強(qiáng)大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包自動將所有數(shù)據(jù)存儲到Excel®或工廠網(wǎng)絡(luò)中。

規(guī)格

測量范圍:   0.2至250微米（涂層厚度）

精度:   涂層厚度的±1%（標(biāo)稱值）* 基于使用NIST可追溯的厚度標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的整個測量范圍（0.2至250微米）的精度驗證

測量速度:   每秒最多100次

溫度范圍:   0°至45°C

輸出指標(biāo):   微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令

操作系統(tǒng):   Windows®平臺

制造:   美國制造

認(rèn)證:   CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證